SPM | AFM | Rastersondenmikroskop | Rasterkraftmikroskop

1. 1. Integrierte Scan-Probe und Probe-Bühne verbessert die Anti-Interferenz-Fähigkeit der Federaufhängung System.
2. Die Präzisionslaser- und Sondenpositionierungsvorrichtung macht den Sondenwechsel und die Spotjustierung einfach und bequem.
3. Die automatische Annäherung der Probe an die Sonde bietet eine effiziente Möglichkeit, einen Absturz des Auslegers zu verhindern.
4. Die vertikale Annäherung der Probensonde ermöglicht eine präzise Positionierung des interessierenden Bereichs.
5. Der zu untersuchende Bereich der Probe kann mit einer hochpräzisen XY-Tabelle frei gewählt werden.
6. Das Top-View-CCD-System gewährleistet die Beobachtung und Positionierung der Sonde auf dem ausgewählten Probenbereich in Echtzeit.
7. Der modulare Aufbau des elektronischen Steuersystems erleichtert die Wartung und kontinuierliche Verbesserungen.
8. Das kompakte Modell 2000 lässt sich leicht in einem Aluminiumkoffer transportieren.
9. Das hermetische Gehäuse des Modells 1000 bietet eine kontrollierte Umgebung