SPM | AFM | Microscopio de sonda de barrido| Microscopio de fuerza atómica

1. 1. La sonda de exploración y la platina de muestra integradas mejoran la capacidad antiinterferente del sistema de suspensión por resorte.
2. El láser de precisión y el dispositivo de posicionamiento de la sonda hacen que el cambio de la sonda y el ajuste del punto sean sencillos y cómodos.
3. El autoaproximación de la muestra a la sonda proporciona una forma eficaz de evitar el choque del voladizo.
4. La aproximación vertical de la sonda de muestreo permite lograr un posicionamiento preciso del área de interés.
5. El área de interés de exploración de la muestra puede seleccionarse libremente con una tabla XY de alta precisión y amplio alcance.
6. El sistema CCD de vista superior garantiza la observación en tiempo real y el posicionamiento de la sonda en la región de la muestra seleccionada.
7. El diseño modular del sistema de control electrónico facilita el mantenimiento y las mejoras continuas.
8. El modelo compacto 2000 puede transportarse fácilmente dentro de una maleta de aluminio.
9. La caja hermética del modelo 1000 proporciona un entorno controlado