SPM | AFM | Microscopio a sonda a scansione| Microscopio a forza atomica

1. 1. La sonda di scansione e lo stadio del campione integrati migliorano la capacità anti-interferenza del sistema di sospensione a molla.
2. Il laser di precisione e il dispositivo di posizionamento della sonda rendono semplice e conveniente il cambio della sonda e la regolazione del punto.
3. L'avvicinamento automatico del campione alla sonda rappresenta un modo efficiente per evitare la caduta del cantilever.
4. L'avvicinamento verticale della sonda campione consente di ottenere un posizionamento preciso dell'area di interesse.
5. L'area di scansione del campione può essere selezionata liberamente con una tabella XY ad alta precisione/ampio raggio.
6. Il sistema CCD con vista dall'alto garantisce l'osservazione e il posizionamento in tempo reale della sonda sulla regione selezionata del campione.
7. Il design modulare del sistema di controllo elettronico facilita la manutenzione e i continui miglioramenti.
8. Il modello compatto 2000 può essere facilmente trasportato all'interno di una valigia di alluminio.
9. La scatola ermetica del modello 1000 offre un ambiente controllato