SPM | AFM | Scanning Probe Microscope| Atomic Force Microscope

1. 1. Интегрированный сканирующий зонд и образец-степлер повышают способность системы пружинной подвески предотвращать помехи.
2. Прецизионный лазер и устройство позиционирования датчика делают замену датчика и регулировку пятна простыми и удобными.
3. Автоприближение образца к зонду обеспечивает эффективный способ предотвращения падения кантилевера.
4. Вертикальное приближение зонда к образцу позволяет добиться точного позиционирования интересующей области.
5. Область сканирования образца может быть свободно выбрана с помощью высокоточной/широкоугольной XY-таблицы.
6. Система CCD с верхним обзором обеспечивает наблюдение в режиме реального времени и позиционирование зонда на выбранной области образца.
7. Модульная конструкция электронной системы управления облегчает обслуживание и постоянное совершенствование.
8. Компактную модель 2000 можно легко перевозить в алюминиевом чемодане.
9. Герметичная коробка в модели 1000 обеспечивает контролируемую среду