SPM | AFM | Microscope à sonde à balayage| Microscope à force atomique

1. 1. L'intégration de la sonde de balayage et du plateau d'échantillonnage améliore la capacité anti-interférence du système de suspension à ressort.
2. Le laser de précision et le dispositif de positionnement de la sonde rendent le changement de sonde et le réglage du spot simples et pratiques.
3. L'approche automatique de l'échantillon par rapport à la sonde constitue un moyen efficace d'éviter l'écrasement du porte-à-faux.
4. L'approche verticale de la sonde d'échantillonnage permet un positionnement précis de la zone d'intérêt.
5. La zone d'intérêt du balayage de l'échantillon peut être librement sélectionnée à l'aide d'une table XY de haute précision/à grande portée.
6. Le système CCD à vue de dessus garantit l'observation et le positionnement en temps réel de la sonde sur la région sélectionnée de l'échantillon.
7. La conception modulaire du système de contrôle électronique facilite la maintenance et les améliorations continues.
8. Le modèle compact 2000 peut être facilement transporté dans une valise en aluminium.
9. La boîte hermétique du modèle 1000 offre un environnement contrôlé.